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廣電計(jì)量擁完整的剪切力拉力試驗(yàn)設(shè)備、X射線透視（xray）試驗(yàn)設(shè)備，并擁有完整的染色測(cè)試方法經(jīng)驗(yàn)與豐富的分析人才，能夠高效準(zhǔn)確的提供焊點(diǎn)質(zhì)量檢測(cè),元器件失效測(cè)試。
廣電計(jì)量可滿足各等級(jí)電子元器件篩選,元件失效分析測(cè)試需求，提供電子元器件測(cè)試、評(píng)估、質(zhì)量保證的成套方案，幫助企業(yè)及時(shí)發(fā)現(xiàn)和剔除有缺陷、易發(fā)生早期失效的元器件，提高電子元器件的使用可靠性，保障和支撐電子裝備可靠性提升。
廣電計(jì)量電源模塊老煉與測(cè)試驗(yàn)證,失效分析機(jī)理檢驗(yàn)適應(yīng)于交直流電源、模塊電源、醫(yī)療電源等各類電源產(chǎn)品的測(cè)試。電源模塊老煉試驗(yàn)通過對(duì)電源模塊施加電應(yīng)力和熱應(yīng)力，在短時(shí)間內(nèi)讓不良品表現(xiàn)出失效現(xiàn)象，以達(dá)到提高電源模塊使用可靠性的目的。
廣電計(jì)量電纜可靠性測(cè)試,元器件失效分析服務(wù)在電線電纜測(cè)試與鑒定方面具有深厚的積累，可提供電線電纜的一站式測(cè)試與鑒定服務(wù)。
廣電計(jì)量破壞性物理分析,DPA測(cè)試 元器件失效分析提供覆蓋被動(dòng)元件、分立器件和集成電路在內(nèi)的元器件破壞性物理分析(DPA)服務(wù)，其中針對(duì)先進(jìn)半導(dǎo)體?藝，具備覆蓋7nm以下芯片DPA分析能?，將問題鎖定在具體芯片層或者μm范圍內(nèi)，針對(duì)有水汽控制要求的宇航級(jí)空封器件，提供PPM級(jí)內(nèi)部水汽成分分析，保證空封元器件特殊使用要求。
廣電計(jì)量裝備定壽延壽,元器件失效分析采用特定專業(yè)的檢測(cè)設(shè)備，采用加速試驗(yàn)、?品分析、歷史數(shù)據(jù)收集等方式方法，輔以產(chǎn)品失效分析，即時(shí)發(fā)現(xiàn)貯存失效機(jī)理，并基于科學(xué)的概率數(shù)理統(tǒng)計(jì)理論，計(jì)算出產(chǎn)品的可靠性特征參數(shù)和壽命特征值分布曲線，確定裝備貯存壽命。
超大規(guī)模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測(cè)試是確定或評(píng)估?規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程，是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、監(jiān)控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)?的重要?段。
廣電計(jì)量集成電路工程化量產(chǎn)測(cè)試,失效機(jī)理分析，擁有經(jīng)驗(yàn)豐富的IC測(cè)試技術(shù)開發(fā)團(tuán)隊(duì)，可提供各類芯?的測(cè)試方案開發(fā),測(cè)試硬件開發(fā),測(cè)試程序開發(fā)與調(diào)試,小批量測(cè)試,應(yīng)?驗(yàn)證.從?程化到量產(chǎn)的全流程專業(yè)定制化的?站式服務(wù).
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