氮化鎵（GaN），作為一種具有物理和化學(xué)性質(zhì)的半導(dǎo)體材料，憑借功率轉(zhuǎn)換效率、超快的開關(guān)速度以及出色的耐高溫性能，在5G通信、新能源汽車、數(shù)據(jù)中心及消費(fèi)電子等前沿領(lǐng)域扮演著重要角色。然而，GaN的可靠性評(píng)估及全面性能測試仍面臨挑戰(zhàn)，尤其是高耐性、優(yōu)異熱阻及極低界面電容等性能測試技術(shù)在國內(nèi)尚待成熟。基于此，廣電計(jì)量集成電路測試與分析研究所推出了GaN功率器件開關(guān)耐高壓性能的可靠性評(píng)估及測試方法，實(shí)現(xiàn)對(duì)氮化鎵功率器件的可靠性測試，不僅涵蓋了AEC標(biāo)準(zhǔn)鑒定能力，同時(shí)具備對(duì)GaN 器件內(nèi)在故障機(jī)制觸發(fā)方法的驗(yàn)證能力。
攻克多樣技術(shù)難題，鑄就技術(shù)品質(zhì)

針對(duì)氮化鎵功率器件動(dòng)態(tài)性能測試所面臨的挑戰(zhàn)，深入探究氮化鎵開關(guān)性能測試技術(shù)，對(duì)測試布局予以優(yōu)化，規(guī)避測試過程中長環(huán)路的引入，從高低側(cè)電壓測量以及電流傳感器選取等方面著力，成功攻克測試的難點(diǎn)，同時(shí)克服了氮化鎵器件容易發(fā)生的電流崩塌問題，填補(bǔ)可靠性評(píng)估及測試能力空缺，為企業(yè)及行業(yè)提前預(yù)判器件的潛在失效問題。

 

 

 

 

 

服務(wù)優(yōu)勢

 

擴(kuò)展服務(wù)范圍：填補(bǔ)研究的空缺，剖析GaN潛在失效機(jī)制。

 

提高監(jiān)測效率：實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)性能的在線監(jiān)測，異常電壓電流可觸發(fā)報(bào)警并暫停測試。

 

提前故障干預(yù)：避免引入寄生參數(shù)，在早期及時(shí)干預(yù)，降低產(chǎn)品的失效率。

 

提升產(chǎn)品質(zhì)量：設(shè)置完整的可靠性系統(tǒng)，把控GaN產(chǎn)品質(zhì)量。

解鎖GaN器件故障機(jī)制，驅(qū)動(dòng)行業(yè)升級(jí)

        針對(duì) GaN 仍存在一系列 Si 器件的可靠性評(píng)估及測試無法覆蓋的難題，廣電計(jì)量建立的氮化鎵可靠性評(píng)估及測試方法不僅涵蓋了標(biāo)準(zhǔn)鑒定能力，更重要具備對(duì) GaN 器件內(nèi)在故障機(jī)制觸發(fā)方法的驗(yàn)證能力。通過深入研究GaN的可靠性問題并采取相應(yīng)的措施來提高其可靠性水平，可以推動(dòng)相關(guān)技術(shù)的創(chuàng)新和發(fā)展、確保產(chǎn)品質(zhì)量與安全性、促進(jìn)市場應(yīng)用與拓展、降低維護(hù)成本與風(fēng)險(xiǎn)以及推動(dòng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化與規(guī)范化發(fā)展。

集成電路測試與分析研究所

        廣電計(jì)量集成電路測試與分析研究所擁有各類高精尖分析儀器和專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)，以技術(shù)帶入市場，長期致力于元器件篩選及失效分析技術(shù)領(lǐng)域的科研和咨詢服務(wù)，構(gòu)建了包括元器件國產(chǎn)化驗(yàn)證與競品分析、集成電路測試與工藝評(píng)價(jià)、半導(dǎo)體功率器件質(zhì)量提升工程、車規(guī)級(jí)芯片與元器件AEC-Q認(rèn)證、車規(guī)功率模塊AQG 324認(rèn)證等多個(gè)技術(shù)服務(wù)平臺(tái)，滿足裝備制造、航空航天、汽車、軌道交通、5G通信、光電器件與傳感器等領(lǐng)域的電子產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的需求，能為客戶提供專業(yè)化咨詢、分析及培訓(xùn)等“一站式”服務(wù)，全面提升產(chǎn)品品質(zhì)。